薄層色譜掃描儀計(jì)算方程

 

　　用于定量的薄層色譜儀稱為薄層色譜掃描儀，或薄層色譜光密度計(jì)，用這種儀器對(duì)薄層上被分離的物質(zhì)進(jìn)行直接定量的方法稱薄層色譜掃描法。目前各國(guó)生產(chǎn)的薄層色譜儀規(guī)格不同，性能各異，但其基本測(cè)定原理是一樣的，即用一束長(zhǎng)寬可以調(diào)節(jié)的一定波長(zhǎng)、一定強(qiáng)度的光照射到薄層斑點(diǎn)上進(jìn)行整個(gè)斑點(diǎn)的掃描，用儀器測(cè)量通過斑點(diǎn)或被斑點(diǎn)反射的光束強(qiáng)度的變化從而達(dá)到定量的目的。

 

　　但是薄層是由許多細(xì)小顆粒組成的半透明物體，光照射到薄層表面，除透射光、反射光外，還有相當(dāng)多的散射光，因此與光照透明溶液不同，樣品量與測(cè)得值之間呈非線性關(guān)系，特別在高濃度區(qū)，這樣就給定量工作帶來困難，為此有以下三種途徑來解決薄層上的定量間題。薄層色譜掃描儀具有線性化器，其工作原量即根據(jù)Kubelka-Mimk方程式用電路系統(tǒng)將彎曲的曲線校正為直線，用校正后的直線進(jìn)行定量。

 

　　a．選取曲線中的直線部分用于定量分析在低濃度范圍內(nèi)，樣品量與測(cè)得值間可存在線性關(guān)系，此法簡(jiǎn)便，也是在沒有線性化功能的薄層色譜儀上常用的方法，但由于線性濃度范圍有限。

 

　　b.光照到散射物質(zhì)表面，光的行為比較復(fù)雜，Kubelka及Munk從理論上推導(dǎo)出簡(jiǎn)化的方程式，現(xiàn)應(yīng)用于薄層掃描。從實(shí)用角度解釋光照到薄層上的變化情況。

 

　　c．利用非線性方程定量

 

　　利用計(jì)算機(jī)先求出非線性方程，然后在測(cè)定樣品時(shí)將測(cè)定值輸入計(jì)算機(jī)，由此方程求出樣品濃度。根據(jù)此原理進(jìn)行測(cè)定，并認(rèn)為這種方法更為合理，測(cè)定值更準(zhǔn)確可靠。